FLEX PRO™ 顯微分光光度計 ( FLEX UV-Visible Microspectrophotometer )
可測量微觀樣品區域在紫外-可見-近紅外線範圍內的透射、吸光度、反射、發射和螢光光譜。在採集微光譜™ 的同時，它還能同時提供高解析度彩色數位成像或目鏡觀測。其他功能包括微觀樣品的折射率測量、微比色法和微點薄膜厚度測量，使 FLEX PRO™ 成為滿足各種分析需求的全方位多功能解決方案。
主要特點*
一種經濟高效的紫外-可見-近紅外顯微光譜和顯微成像解決方案。
- 紫外-可見-近紅外線顯微光譜
- 高解析度成像
- 顯微光譜學
- 傳染
- 反射率
- 極化
- 螢光
- 拉曼
- 成像：
- 傳染
- 反射率
- 極化
- 螢光
- 拉曼顯微光譜
- 薄膜厚度測量
- 顯微樣品的比色法。
- 使用 rIQ™ 套件進行折射率測量。
- 採用 Lightblades ™ 技術
- Scorpii ™ 先進照明系統
- 校準後，可提供小於一微米的可變測量區域
- 目鏡和數位成像均能獲得優質影像
- 專用軟體 ，包括統計分析、光譜資料庫、影像分析等
- 易於使用和維護
- 來自顯微光譜學專家
應用
- 痕跡證據
- 法醫藥物化學
- 質疑文件
- OLED
- 平板彩色面罩
- 半導體薄膜厚度
- MEMS 設備
- 表面等離子體共振
- 光子帶隙晶體
- 製程雜質檢測
- 蛋白質晶體
- 組合化學